真正的全硫分析NO-CT™技术满足新的氮干扰的解决方案

介绍

在分析总硫烃产品或衍生品,干扰高浓度的氮含量组件可能会变得麻烦。
TE仪器开发了一个新的氮氧化物校正技术(NO-CT™)解决方案真正的全硫的分析值样本中含有大量的氮。

背景

当使用高温氧化样品燃烧分析仪。介绍氮包含组件,目前的样品中,转化成氮氧化物(NO / NO2)。一氧化氮分子影响吸收和发射光的波长范围与二氧化硫分子做当使用UV-Fluorescence检测技术。这额外的吸收和激发一氧化氮分子导致错误的(积极的)对测量的全硫量的贡献。
在ASTM 5453 19(标准试验方法测定总硫的光碳氢化合物,火花点火发动机燃料,柴油机燃油和机油UV-F),介绍了氮硫的贡献与矫正的建议。贡献硫结果可以被计算,纠正或消除的不出口气体中的分子。
防止没有硫分子进入检测器通常是通过消除无分子。消除可以通过添加一个气体流的臭氧(O3)流路径在燃烧后,当它与没有反应形式二氧化氮(NO2没有吸收UV-F探测器)。由于O3氧化器,它将随着时间的推移损害UV-F反应细胞。加起来:稀释的出口与臭氧气体影响的线性检测极限价值和影响UV-F探测器。
创新伊克斯托分析器从TE仪器及其UV-Fluorescence检测已经有一个减少敏感性在测量硫毫无贡献,但是当真正的硫数字是必需的,伊克斯托分析器现在可以升级与新氮干扰(NO-CT™)的解决方案。
这个新的氮干扰解决方案纠正无干扰和贡献在燃烧气体和计算真正的硫的结果。与NO-CT™任何更改应用于气体流动,没有影响UV-F探测器,LOD或线性不受影响。

高氮硫的影响

展示的效果没有分子UV-F硫探测器,一系列氮标准随着氮浓度增加,Xplorer-TS分析仪测定。以下图表记录了50,100,500,
包含零硫和氮1000 ppm标准:插值校准线的区域添加值的估计了硫氮浓度的值:

NO-CT™

NO-CT™是一种校正技术,基于计算tei,从TE工具软件包的控制数据的分析和解释。tei 2这个软件功能是可用的软件包版本2.5.7或更高版本和使用的硫氮和测量干涉测量。分析含有UV-F探测器和CLD探测器已经能够使用这种矫正技术但没有CLD探测器系统,校正是不可能的。

TEI分析仪目前可用以下探测器设置:
1。总硫(UV-F)
2。总氮(CLD)
3所示。双探测器的解决方案,全硫(UV-F) +总氮(CLD)
实验室测量氮不感兴趣,但想拥有真正的硫的结果,基于软件的氮的校正。出于这个原因,TE Xplorer-TS-only分析仪仪器开发了一个独特的硬件解决方案。这个解决方案纠正氮值水平从10 ppm,到1000 ppm,不失性能。
在启用校正之前,用户需要记录一个特殊的刻度线,只包含氮气。在大多数情况下,校准的500 ppm的总氮将覆盖大部分的干扰。刻度线是稳定的1年校准和没有需要定期重新校准传感器。校准线后记录它仅仅是一种将修正“ON”的tei配置。

示例数据与NO-CT™

作为一个验证实验使用校正技术,多个标准是使用二丁基硫化(硫)和吡啶(氮)二甲苯的矩阵。标准中掺入增加大量的氮。
注射后的标准,下面的叠加和校准线和结果记录下来。

使用分析仪和设置

Xplorer-V TS新NO-CT™。新NO-CT™可以添加到现有系统与以下升级工具包:KIT0176990 Xplorer-TS只有NOCT升级装备。